黑白密度計的可測量范圍為ISO光學密度（OD）0-6.00D。它擁有這么大的測量范圍，使得它可以用在測量膠片，薄膜，底片基質(zhì)的密度值。TBX1500能測定正負點之間的距離，TBX2000可以測定透明度和密度。這些測定出來的數(shù)據(jù)都可以通過USB上傳和制作成電子表格。如果有特殊需求，可以加裝一塊過濾載片，用來獨立測量光譜中客戶感興趣的一部分。TBX系列在所有功能中都可以顯示與預存值不同的偏差。

黑白密度計

特點：

·柔軟按鍵

·滿足工業(yè)規(guī)格的*光學系統(tǒng)

·7.5英寸的長桿用來測量大尺寸的樣品

·高精度的讀數(shù)能夠被重復調(diào)用

·可選的濾光板

·標準USB接口

·軟件校準

·可開關的LED桌面背燈

·在測量金屬鍍膜底片時擁有出色性能

上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務的企業(yè)。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀，新款OmniScan MX3全聚焦相控陣超聲波探傷儀）；超聲波測厚儀：（27MG超聲波測厚儀、45MG超聲波測厚儀、38DL PLUS超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應測厚儀，ETG-100電磁高溫測厚儀）；超聲波探頭；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）；硬度計；DR平板探測器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探測器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。內(nèi)窺鏡：（IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、）；脈沖發(fā)生器：（DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析儀：(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表